艾微檢測(cè)/IV Testek

標(biāo)志名稱：

艾微檢測(cè)/IV Testek

公司簡(jiǎn)介：

經(jīng)營(yíng)范圍：計(jì)量技術(shù)服務(wù)；信息技術(shù)咨詢服務(wù)；信息咨詢服務(wù)（不含許可類信息咨詢服務(wù)）。（除依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目外，憑營(yíng)業(yè)執(zhí)照依法自主開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)）許可項(xiàng)目：檢驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)。（依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目，經(jīng)相關(guān)部門(mén)批準(zhǔn)后方可開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)，具體經(jīng)營(yíng)項(xiàng)目以審批結(jié)果為準(zhǔn)） 企業(yè)簡(jiǎn)介：艾微檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)（西安）有限公司（以下簡(jiǎn)稱“艾微檢測(cè)”）于2022年4月21日成立，位于西安市高新區(qū)錦業(yè)路70號(hào)航天恒星園區(qū)3號(hào)廠房一層?xùn)|側(cè)，專業(yè)從事電子元器件測(cè)試、篩選、失效分析及元器件標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量與可靠性技術(shù)等相關(guān)技術(shù)服務(wù)。艾微檢測(cè)秉承“以標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，以檢測(cè)為手段”的質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ)發(fā)展理念，以可靠性集成電路技術(shù)為依托，搭建高可靠JG級(jí)、汽車級(jí)、工業(yè)級(jí)可靠性實(shí)驗(yàn)和檢測(cè)平臺(tái)，建設(shè)模擬和混合信號(hào)可靠性和功能安全實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，服務(wù)JG級(jí)、汽車級(jí)、工業(yè)級(jí)高可靠性芯片檢測(cè)評(píng)估和性能分析，為高可靠性集成電路芯片設(shè)計(jì)提供硅驗(yàn)證級(jí)技術(shù)分析和設(shè)計(jì)指導(dǎo)。

設(shè)計(jì)建議：

艾微檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)（西安）有限公司為高科技型公司，專業(yè)從事電子元器件測(cè)試、篩選、失效分析及元器件標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量與可靠性技術(shù)等相關(guān)技術(shù)服務(wù)。為JG級(jí)、汽車級(jí)、工業(yè)級(jí)高可靠性芯片提供檢測(cè)評(píng)估和性能分析，為高可靠性集成電路芯片設(shè)計(jì)提供硅驗(yàn)證級(jí)技術(shù)分析和設(shè)計(jì)指導(dǎo)。

參考案例：